GP300探針臺 返回列表頁

GP300探針臺12英寸手動探針臺

GP300探針臺產品數據：

1. 機臺可輕松實現DC ~ THZ測量。

2. 提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

3. 優異的三軸設計，保證I-V測試漏電精度達到fa等級。

4. 多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。

5. 高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準確性和效率。

6. 可升級的高低溫系統，為芯片提供更加成熟穩定的老化測試環境。

7. 緊湊且可靠的機械設計，更適用于芯片的測試及建模系統升級。

8. 能夠根據未來需求，可提供多種升級模塊，輕松實現探針臺功能升級。

9. 短軸式拉桿設計，將更加符合新一代芯片系統測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節省成本。

溫控系統局部細節圖--高溫低漏電載物臺

搭載直流和射頻探針座實物照片

搭載思儀太赫茲系統實物